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Docente
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CAPELLINI GIOVANNI
(programma)
Occhio e percezione. Cenni storici di microscopia.
Richiami di ottica. Fondamenti di microscopia ottica. Risoluzione, contrasto ed ingrandimento. Le componenti di un microscopio ottico. La formazione dell’immagine Microscopia in riflessione. Contrasto di fase. Campo chiaro e campo scuro. Polarizzazione.
Principi di funzionamento della microscopia a scansione di elettroni (SEM). Componenti di un SEM. Interazione sonda campione. Rilevazione di elettroni secondari e retrodiffusi. Utilizzo del SEM.
Principi di funzionamento e componenti di un microscopio a scansione di sonda (SPM). La microscopia a effetto tunnel (STM). La microscopia a forza atomica (AFM). AFM in contatto. AFM in non-contatto. Tecniche a scansione secondarie. Risoluzione ed artefatti.
Introduzione all’ analisi di immagine 2D e 3D, miglioramento della qualità delle immagini con e senza l’utilizzo di kernel, segmentazione, binarizzazione e analisi quantitativa di immagine con software open-access.
(testi)
Dispense realizzate dal docente sulla base delle slide presentate durante il corso.
Fundamentals of Light Microscopy and Electronic Imaging. D. B. Murphy , M. W. Davidson. J. Wiley & Sons
Scanning Microscopy for Nanotechnology, W. Zhou and Z. L. Wang. Springer
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Università Roma Tre